一、電子技術綜合實驗儀的系統(tǒng)簡介：

　　隨著電子科學技術，尤其是微電子技術的發(fā)展，數(shù)字邏輯電路的實驗內(nèi)容得到不斷的更新，除了可以采用常規(guī)的TTL邏輯器件 (如邏輯門、觸發(fā)器等小規(guī)模集成電路)進行實驗外，也可以采用可編程邏輯器件(包括PLA，GAL、CPLD、FPGA等大規(guī)模集成電路)，借助計算機輔助設計軟件進行數(shù)字電路的設計和模擬調(diào)試，這種硬件軟化的實驗方法具有容易設計、容易修改和容易實現(xiàn)等優(yōu)點，可有效地提高實驗效率，正在逐步地替代前一種純硬件邏輯的實驗方法，成為數(shù)字邏輯電路實驗的重要內(nèi)容。

　　該實驗儀綜合了許多高等院校數(shù)字邏輯電路教學實驗經(jīng)驗，科學配置實驗項目，既可以完成常規(guī)的數(shù)字電路實驗，又可以完成利用大規(guī)模邏輯器件(CPLD/FPGA)進行數(shù)字邏輯設計的實驗，以取代復雜的傳統(tǒng)TTL/COMS硬件設計。促使學生理論聯(lián)系實際，培養(yǎng)學生分析、設計、組裝和調(diào)試數(shù)字電路的基本技能，掌握數(shù)字邏輯電路實驗方法，并為掌握后繼專業(yè)學科打好基礎。

二、電子技術綜合實驗儀的配置及特點：

　　1、電源：

　　輸入：AC 220V±10%

　　輸出：DC 5V/3A，DC ±12V/0.5A

　　2、信號源：

　　(1)單脈沖：有四路單脈沖電路，每路產(chǎn)生一個寬的正單脈沖和一個窄的正單脈沖，其中二路在產(chǎn)生正脈沖的同時還產(chǎn)生一個負脈沖。

　　(2)連續(xù)脈沖：分兩組，

　　一組為10路固定頻率的方波：1Hz、10Hz、100Hz、1KHz、10KHz、100KHz、0.5MHz、1MHz、5MHz、10MHz。

　　另一組為連續(xù)可調(diào)方波：0Hz～100KHz。

　　(3)時序脈沖發(fā)生電路及啟?？刂齐娐罚寒a(chǎn)生四路脈沖信號，脈沖周期與輸入的時鐘信號相同，四個脈沖之間依次相差1個輸入時鐘周期。

　　3、液晶顯示、量程自動切換的電壓、電阻表：具有數(shù)據(jù)保持功能

　　電壓測量范圍：-50V ～ +50V

　　電流測量范圍：0A～ 4A

　　電阻測量范圍：0 ～ 4MΩ

　　4、提供50MHZ液晶顯示頻率計

　　5、邏輯筆：紅色：高電平;綠色：低電平;黃色：高阻;

　　6、提供十六進制8421撥碼盤二組;

　　7、16位邏輯電平開關：

　　可輸出“0”、“1”電平，同時帶有電平指示，當開關置“1”電平時，對應的指示燈亮，開關置“0”電平時，對應的指示燈滅，開關狀態(tài)一目了然。

　　8、16位電平指示：

　　由紅、綠、黃、白16只LED及驅(qū)動電路組成。當正邏輯“1”電平輸入時LED點亮，反之LED熄滅。

　　9、數(shù)碼管顯示:

　　由6位7段LED數(shù)碼管及二―十六進制譯碼器組成。供數(shù)字鐘、日歷等實驗顯示用.

　　10、提供兩路0～Vx可調(diào)模擬電壓信號源。輸出Vx為：0～±5V 、0～±0.5V。

　　11、蜂鳴器及驅(qū)動電路。提供時鐘報時、報警、音樂用等發(fā)聲裝置。

　　12、內(nèi)置1K、20K、100K電位器，作可變電阻用。

　　13、開放式實驗區(qū)，提供多種多只 IC園孔插座(6只14芯、6只16芯、4只20芯)，園孔插座接觸好，耐插拔;1只40芯鎖緊插座，可插8～40芯片。

　　14、提供分立元件接插區(qū)，可接插電阻、電容、穩(wěn)壓管、二極管和電位器等，方便擴展。

　　15、提供高質(zhì)量的實驗面包板，進行擴展實驗及創(chuàng)新實驗。

　　16、全部信號的引出插孔均采用中型鍍金孔，不氧化，不變色。實驗連接線采用鍍金自鎖緊接插頭，接線的可靠性好。

　　17、主板上可以擴展大規(guī)?？删幊唐骷﨏PLD或FPGA實驗卡?？蛇x配Lattice公司的1032，也可根據(jù)用戶需求配置其它公司的器件，如Aletra 7128，Xilinx 95108。

　　18、可選配模擬電路實驗卡

三、電子技術綜合實驗儀的實驗內(nèi)容：

　　(一)數(shù)字電路推薦實驗項目：

　　(1)TTL集成邏輯門的參數(shù)測試與使用 (2)CMOS集成邏輯門的測試

　　(3)門電路的邏輯功能實驗 (4)常用組合邏輯功能器件的測試

　　(5)數(shù)據(jù)選擇器及其應用 (6)血型關系檢測電路和表決電路

　　(7)RS觸發(fā)器的功能與測試 (8)JK觸發(fā)器邏輯功能及主要參數(shù)測試

　　(9)移位寄存器的功能測試 (10)十進制計數(shù)器(CMOS)

　　(11)異步計數(shù)器 (12)同步計數(shù)器

　　(13)計數(shù)、譯碼、顯示電路實驗 (14)555集成定時器及應用

　　(15)序列檢測器 (16)數(shù)-模轉(zhuǎn)換器

　　(17)追隨比較型A/D轉(zhuǎn)換電路 (18)人工控制交通燈控制器

　　(19)汽車尾燈控制電路 (20)數(shù)字鐘電路的設計

　　(21)時序電路測試及研究 (22)波形產(chǎn)生及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器

　　(23)A/D 轉(zhuǎn)換電路 (24)D/A轉(zhuǎn)換電路

　　(二)EDA器件開發(fā)設計實驗(需選配EDA擴展卡)

　　1、單元電路設計實驗：

　　(1)常用門電路設計 (2)編碼器/譯碼器設計

　　(3)觸發(fā)器及時序電路設計 (4)同步/異步計數(shù)器設計

　　(5)鍵盤掃描實驗 (6)加法器實驗

　　2、綜合設計實驗：

　　(1)SSI組合電路的設計與冒險競爭觀察 (2)MSI組合電路的設計

　　(3)可讀寫寄存器的設計

　　3、研究創(chuàng)新實驗：

　　(1)數(shù)字頻率計 (2)數(shù)字電子鐘設計

　　(3)十字路口交通燈自動控制器的設計 (4)出租車計費器的設計

　　(5)數(shù)字濾波器設計 (6)DAC、ADC模型設計;

　　(7)數(shù)字模擬綜合系統(tǒng)設計